MF系列 测量显微镜
可进行无衍射观察测量 大视野目镜，低噪声设计 标准显微镜配有多种附件 具有高聚焦重复性的高度测量
MF 测量显微镜(Z轴电动型/电动型)
可进行无衍射观察测量 高倍目镜观察，最高达2000X 可以进行影像AF，提高了操作性
MF-U 通用测量显微镜
测量精度高，且视场开阔 进给手柄安装在立柱两侧 不受用左右手习惯影响 高倍目镜观察，最高达4000X
MF-U (Z轴电动型/电动型)通用测量显微镜
可进行无衍射观察测量 工作台可由控制手柄进行操作 提供了高分辨力观察和高精度测量 高倍放大目镜，观察倍数高达4000X
Hyper MF/MF-U高精度测量显微镜
最小显示分辨力0.01μm 前台操作设计基于UD理念 电动转塔型拥有回缩功能 行程为250×150mm 的大工作台
TM-500工具显微镜
具有超佳颜色再现性 配有新设计的LED 照明 能准确地进行角度测量 最大可完成115mm的测量高度
QM-Data200 2-D 数据处理器
采用AI功能 可进行数据的公差检验 具有测量步骤学习功能 扩展2D光学测量仪器的功能
Vision Unit影像测量系统
可进行高精度的测量 配有高分辨力摄像头 采用自动边缘检测工具 采用大屏幕LCD 液晶显示器 可实现高分辨力影像存储功能
VMU 378 视频显微镜系统
应用：切割，修整，校正等 适于检测金属表面、半导体等 配有孔径光阑的远心光学系统
WIDE VMU 视频显微镜系统
提高检测效率 装配大视场图像传感器 适合外观检查，偏光观察
FS 系列物镜 超长工作距离物镜
支持波长范围广 采用环保玻璃用作透镜材料 实现高彩色再现性的图像均匀度
显微镜选件
照明 镜头：目镜、目镜镜筒、物镜 影像测量系统Vision Unit选件 2-D数据处理器QM-Data200选件
FS-70 半导体检测用显微镜单元
拥有高可操作性 带有孔径光阑的柯勒照明 支持BF、DF、等的型号可用 适于检测金属表面、半导体等
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